Dynamic Image Analysis (DIA) is a modern particle characterization method for the determination of size distributions and shape parameters. It allows quick analyses with excellent accuracy and reproducibility over an extremely wide measuring range. With the renowned CAMSIZER system, Microtrac introduced its first Dynamic Image Analyzer over 20 years ago and has pushed technological innovation ever since.
在许多应用中，粒度和形状信息是重要的工艺和质量指标。 通过符合 ISO 13322-2 的动态图像分析方法，可以直接以详细和有代表性的方式分析样品材料的这些重要材料特性。在动态图像分析中，样品在运动状态下形成颗粒流经过测试区域，光源发射的平行光照射到颗粒表面后所形成的颗粒投影，被位于另一侧的成像设备拍摄捕捉。 颗粒以自由落体（流动性和分散性比较好的颗粒）、液体流或者压缩空气流的状态运动，即使是团聚性粉末也具有很好的分散效果。在测量过程中，为了提高颗粒统计量并且避免模糊颗粒的影响，需要设置极短的曝光时间和极高的拍摄频率。 一次典型测量需要 1-5 分钟，通常可以检测到数万到数百万个粒子。
动态影像分析 - 作用原理
静态和动态图像分析之间的关键区别在于，在静态图像分析中，粒子位于载玻片上，并且在采集过程中不会相对于相机移动，例如使用显微镜进行拍摄分析。静态图像分析主要用于测量粒度分布窄，并且尺寸比较小的颗粒的表征。 这种方法提供高分辨率的颗粒图像，可以准确地描述颗粒尺寸和形状，主要用于研发应用。另一方面，动态图像分析非常适合散装货物、粉末、颗粒和悬浮液的常规测量。 该方法的特点是样品通量高、可靠性和重现性极佳。
用于Microtrac Camsizer 的光刻校正板
测量过程中双镜头同时工作：基准镜头（红）分析更大颗粒，放大镜头（蓝）分析更小颗粒。双镜头技术确保在一个粒径分布中的所有颗粒都能得到最优的测量条件。
以肥料颗粒为例，CAMSIZER P4的测试结果可以和筛分结果进行完美的拟对
Dynamic Image Analysis can also be integrated directly into a process as an online measurement system for many applications.
The robustness of the devices allows them to be used in production environments: Dust, vibration and temperature fluctuations do not affect the measurement.
Material is continuously fed to the measuring device via an automatic sampler, changes in the process or in the product quality can thus be detected practically in real time.
The picture shows a Microtrac Dynamic Image Analysis system in online operation in a fertilizer factory.
生产线上完全自动化的测量系统
对于颗粒测量技术中的许多任务来说，可靠地检测过大的颗粒是至关重要的，例如，在分析磨料或表征用于快速成型制造的金属粉末方面。动态图像分析技术非常适用于此类应用。如果相机检测到过大的颗粒，它也会在结果中得到体现。
由于高达320帧/秒的高采集速率和大量捕获的颗粒，检测概率非常高。在某些应用中，甚至可以保证100%的检测精度。这个例子显示了对一个加入了不同比例的过大颗粒的金属粉末样品的分析。动态图像分析系统CAMSIZER X2甚至可以检测到0.005 %的大颗粒！这就是动态图像分析。
准确检测金属粉末中少量的超大颗粒。正常金属粉末小于 100 µm，超大颗粒尺寸大于 200 µm。 该曲线显示了添加的超大颗粒的数量以及Camsizer X2检测到的超大颗粒的百分比。
动态图像分析中数量庞大的颗粒检测带来了另一个优势：实现了非常好的结果重复性。该图显示了尺寸范围从 50 μm 到 1.5 mm 的玻璃珠的3峰混合物的五次连续重复测试。每次测试大约需要 2.5 分钟，每次检测统计到 500 万个颗粒。
动态图像分析的重复性误差非常小。
动态图像分析适用于大于约 1 µm 的样品。 如果还要测量更小的纳米颗粒，激光衍射是首选方法。然而，激光衍射法不提供有关颗粒形状的信息，并且检测过大颗粒的灵敏度要低得多。因此，Microtrac 的 SYNC 是一种新颖的测量设备，它独特地结合了激光衍射与动态图像分析两种方法！
SYNC 是 Microtrac 最先进的激光衍射分析仪。
Microtrac提供多种基于动态图像分析原理的仪器。
我们的专家团队将很乐意就您的应用和我们的产品向您提供建议。
在静态图像分析 (SIA, ISO 13322-1) 中，记录图像时颗粒处于静止状态，就像使用显微镜一样。 在动态图像分析 (DIA, ISO 13322-2) 中，相机系统捕获运动的颗粒流。 静态方法生成少量粒子的清晰图像，而动态图像分析可以在很短的时间内统计大量颗粒。 因此，动态图像分析可显着提高超大颗粒的可重复性和检测概率。
动态图像分析的一个主要优点是结果与传统筛分分析的结果一致性较好。 用户受益于更短的测量时间和更高的样品通量、高度自动化（例如在线测量）和更低的人为误差带来的影响。 动态图像分析不再需要费时的称重和清洁筛网等步骤。
动态图像分析的下限测量范围为 ~0.8 µm，上限测量范围为 ~135 mm。 动态图像分析系统的下限受摄像机分辨率的限制，上限受视场大小（大约图像区域对角线的 1/3）的限制。 通过在一台仪器中使用两个摄像头，分析仪可以在下限和上限之间满足高达 10.000 倍的测量范围。
动态图像分析适用于各种不同的应用，已经被广泛应用于日常质量控制和生产监控以及研发任务。 许多行业已经在利用动态图像分析的优势，例如，医药产品、食品、肥料、沙子、建筑材料、塑料以及其他设计粉体颗粒材料的行业
由于动态图像分析极高图像采集速率（根据型号不同，一般每秒采集 60 - 320 张图像），可以在很短的时间内计算所有的颗粒数据， 因此，可以快速获得准确的结果。 通常，动态图像分析的测量时间为 1 -3 分钟。 由于测量是非接触式的，因此对设备的清洁和维护要求非常低。
