小比表面采用Ar气吸附测量 我们可以用Kr来测量低比表面积吗？

Kr吸附常用来测定低比表面积。为什么我们可以用Kr来测量低比表面积？ Kr和N2的截面积分别为0.202nm2和0.162nm2。Kr分子要大25%左右。不适合低比表面积的测量。 使用Kr的原因是由于其吸附温度和蒸汽压。体积法的气体吸附量是根据在平衡压力下加入的气体分子数与未吸附气体分子数的差值来计算的。换句话说，通过假设分子大小相等和吸附压力（摩尔数）是50pa，对于N2来讲需要测量压力的变化为0.16%（=50/30400），对于Kr来讲压力变化是63%（=50/80），在同一相对压力（p/p0=0.3, N2=30400pa, Kr=80Pa）。显然，比较容易测量更大的压力变化，因此测量的精度也比较好。因此，在吸附测量温度下的饱和蒸汽压越低，低表面积的测量就越准确。

表：参数的表面积和吸附

在实际应用中，要提高测量精度并不容易。为了使用Kr测量低比表面积，仪器需要有一个高真空泵，额外的低压传感器和完善的密封系统。